●講演1
タイトル：
原子間力顕微鏡の基礎とその最新展開
講  演  者：
龍谷大学 先端理工学部 電子情報通信課程
准教授　宮戸 祐治（みやと ゆうじ）

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内         容：
　現在、材料及びデバイスの研究開発の現場において、ナノスケールあるいはアトミックスケールでの計測・評価の重要性が増しており、様々な計測・評価手法を駆使して多角的に材料やデバイスを分析することが一般的になっています。数ある評価手法の中でも、走査プローブ顕微鏡(SPM)は表面に特化した顕微鏡手法であり、表面形状像(凹凸像)だけではなく、局所の電子物性や機械特性など様々な物性評価も実施可能な手法として発展しています。
　本講演では、SPM、特に原子間力顕微鏡(AFM)の基礎からその研究の最前線まで紹介します。さらに、われわれのグループにおいて、新たな試みとして雪氷結晶観察のために独自開発しているAFM装置、及びAFMを応用した熱電材料評価手法についても解説します。

●講演2
タイトル：磁場やX線を利用した非破壊観察技術
講  演  者：東芝ナノアナリシス株式会社 評価解析技術センター 半導体評価試験ラボ　
主務 博士(工学)　鈴木 一博（すずき かずひろ）氏

内　　容：
　東芝ナノアナリシスは、最新の分析・解析技術と最新鋭の設備を駆使し、半導体・液晶・金属・新素材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの微細加工、分析、解析、信頼性評価、環境安全化学分析、サービス・ソリューションを提供しています。
　今回は、磁場顕微鏡及び3次元X線顕微鏡(X線CT)用いた非破壊観察技術を中心に紹介します。磁場顕微鏡は試料内部の電流から生じる外部磁場分布を測定し、数学的な処理を施して電流経路を推測し可視化する技術で、半導体や電子部品の不具合箇所の特定や、新素材の電流分布の測定に有効です。3次元X線顕微鏡は内部状態を3次元的に可視化する技術で、例えば、錠剤の紛薬などの分布状態や、カプセル内の粒子の大きさや粒度分布の測定に有効です。

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※１　REC BIZ-NET（RECビジネスネットワーククラブ）とは
龍谷大学エクステンションセンター（REC）では、産学連携のマッチングや共同研究・プロジェクトの創成に向けて、地域の中小企業・ベンチャー企業を対象としたREC ビジネスネットワーク（REC BIZ-NET）を組織・運営しています。
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