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【本件のポイント】
【本件の概要】
モノづくりで注目を浴びるのは設計やプロセスという技術分野ですが、開発の方向性の正しさを示すのは「計測・分析」という評価技術です。これは言い換えると“ 評価は開発の羅針盤 ”ということです。例えば、最先端の半導体の開発は、材料からデバイスまでの原子レベルの評価技術により成り立っています。
今回の研究会では、原子間力顕微鏡や走査プローブ顕微鏡による原子レベルの計測技術の研究を進めている本学教員と、半導体や燃料電池はじめナノマテリアル材料などの原子レベルの分析を行っている東芝ナノアナリシス株式会社の研究員による2つの講演を行います。
1.配信日時 2022年6月22日(水)13時30分 ~15時00分
2.開催方法 オンライン開催(約90分)※お申込みいただいた方限定で配信URLをお知らせします
3.テーマ “評価は開発の羅針盤”最新の原子レベルの計測技術とその応用例
●講演1
タイトル:
原子間力顕微鏡の基礎とその最新展開
講 演 者:
龍谷大学 先端理工学部 電子情報通信課程
准教授 宮戸 祐治(みやと ゆうじ)
内 容:
現在、材料及びデバイスの研究開発の現場において、ナノスケールあるいはアトミックスケールでの計測・評価の重要性が増しており、様々な計測・評価手法を駆使して多角的に材料やデバイスを分析することが一般的になっています。数ある評価手法の中でも、走査プローブ顕微鏡(SPM)は表面に特化した顕微鏡手法であり、表面形状像(凹凸像)だけではなく、局所の電子物性や機械特性など様々な物性評価も実施可能な手法として発展しています。
本講演では、SPM、特に原子間力顕微鏡(AFM)の基礎からその研究の最前線まで紹介します。さらに、われわれのグループにおいて、新たな試みとして雪氷結晶観察のために独自開発しているAFM装置、及びAFMを応用した熱電材料評価手法についても解説します。
●講演2
タイトル:磁場やX線を利用した非破壊観察技術
講 演 者:東芝ナノアナリシス株式会社 評価解析技術センター 半導体評価試験ラボ
主務 博士(工学) 鈴木 一博(すずき かずひろ)氏
内 容:
東芝ナノアナリシスは、最新の分析・解析技術と最新鋭の設備を駆使し、半導体・液晶・金属・新素材を中核とした幅広いマーケットに最適なナノレベルの微細加工、分析、解析、信頼性評価、環境安全化学分析、サービス・ソリューションを提供しています。
今回は、磁場顕微鏡及び3次元X線顕微鏡(X線CT)用いた非破壊観察技術を中心に紹介します。磁場顕微鏡は試料内部の電流から生じる外部磁場分布を測定し、数学的な処理を施して電流経路を推測し可視化する技術で、半導体や電子部品の不具合箇所の特定や、新素材の電流分布の測定に有効です。3次元X線顕微鏡は内部状態を3次元的に可視化する技術で、例えば、錠剤の紛薬などの分布状態や、カプセル内の粒子の大きさや粒度分布の測定に有効です。
ご取材いただける場合は、問い合わせ先までご連絡ください。
※1 REC BIZ-NET(RECビジネスネットワーククラブ)とは
龍谷大学エクステンションセンター(REC)では、産学連携のマッチングや共同研究・プロジェクトの創成に向けて、地域の中小企業・ベンチャー企業を対象としたREC ビジネスネットワーク(REC BIZ-NET)を組織・運営しています。
REC BIZ-NETでは、定期的なセミナーの開催や課題別研究会の編成・プロジェクトの運営、RECフェローやコーディネータによる技術相談・経営相談等を通じて、会員企業と本学の産学連携や、会員企業間の交流の場を提供しています。
過年度の開催実績は以下からご覧ください。
https://rec.seta.ryukoku.ac.jp/iag/biznet/study_group.html
お問い合わせ先 : 龍谷エクステンションセンター(REC)滋賀 (担当者:星尾)
[Tel] 077-543-7744 [E-Mail] rec@ad.ryukoku.ac.jp